SIFT是由UBC（university of British Column）的教授David Lowe 于1999年提出， 并在2004年得以完善的一种检测图像关键点（key points , 或者称为图像的interest points(兴趣点) )， 并对关键点提取其局部尺度不变特征的描绘子， 采用这个描绘子进行用于对两幅相关的图像进行匹配（matching）。 目前， SIFT可以说是所有图像局部特征描述特征子 中最火的一个了。-SIFT was developed by David L

根据获取的模型点云，重新建立数据点间的几何拓扑关系，其目的是使特征重现。-According to the acquired model point cloud, the geometric topology relation between data points is reestablished, and its purpose is to make the feature reproduce.

forgery detection based on sift feature extraction and key point descr iption