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  1. ARM JTAG 调试原理

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  2. 这篇文章主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍,在此基础上,结合ARM7TDMI详细介绍了的JTAG调试原理。-This article introduces the ARM JTAG debugging basic tenets. The basic elements include the TAP (TEST PORT ACCESS) and BOUNDARY - SC
  3. 所属分类:微处理器(ARM/PowerPC等)

    • 发布日期:2008-10-13
    • 文件大小:453358
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