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第三届全国研究生集成电路电子设计竞赛试题
- 第三届全国研究生集成电路电子设计竞赛试题- Third session of national graduate student integrated circuit electron design competition test question
4CMOS逻辑和设计规则
- 一个关于大规模集成电路的讲义，希望会对大家有所帮助，希望大家喜欢。-one of the lectures LSI, we will help, hope you like them.
数字集成电路讲座1
- 数字集成电路讲座1 对于搞电子的朋友是一个很好的帮助~-digital integrated circuits for operating a lecture electronic friend is a good way of helping ~
数字集成电路讲座2
- 数字集成电路讲座2在发一个，有3个，这是第二个~-digital IC two lectures in a fat, 3, which is the second ~
数字集成电路讲座3
- 数字集成电路讲座3 这个是第三个~望大家支持我~-digital IC three lectures this is the third to draw everybody to support my ~
ic
- 中国金融集成电路(IC)卡规范-China's financial IC (IC) card norms
ISO78161234
- 本规范的这一部分规定了ID-1 型带触点集成电路卡的基本技术要求主要包括以下 内容 物理特性记录方法物理接口要求主要定义了该类卡的基本物理特性 电气信号和传输协议规定了该类卡和终端间的电源电气信号协议和信息交 换协议涉及卡的信号频率电压值电流值校验操作规程和传输与通信协议 本部分适用于中国范围内发行或应用的IC 卡其使用对象主要是与IC 卡应用相关 的卡片设计制造管理发行以及应用系统的研制开发集成和维护等部门或单位
ElectronicTesting
- 数字存储器和混合信号超大规模集成电路 本书系统地介绍了数字、存储器和混合信号VLSI系统的测试和可测试性设计。该书是根据作者多年的科研成果和教学实践，结合国际上关注的最新研究热点并参考大量的文献撰写的。全书共分三个部分。第一部分是测试基础，介绍了测试基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分是测试方法，详细论述了组合和时序电路的测试生成、存储器测试、基于DSP和基于模块的模拟与混合信号测试、延迟测试和IDDQ测试等。第三部分是可测试性设计，包括扫描设计、BIST、边界扫描测试、模拟测
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- 555集成电路实用大全，熟悉555电路的有帮助！