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HX8347-D_DS_T__preliminary_v0_
- HX8347D IC资料 LCM模组测试,HX8347D IC Data LCM Module Test
ICQualityReliabilityTest
- 介绍一些目前较为流行的Reliability的测试方法, 选择合适的测试方法，最大限度的降低IC测试的时间和成本，从而有效控制IC产品的质量和可靠度。 -Some of the more popular current method of testing Reliability, choose a suitable test method, the maximum reduction of IC test time and cost of IC products in order to effe
IC
- 这里是我们考硬件的基础——模电和数电的综合版本~！~-Here is our test hardware-based- and several electric power module integrated version of the ~! ~
combo_chip_set_test_instrument
- 集成电路芯片测试仪是一个能对常用74LS系列芯片进行逻辑功能测试，并判别芯片好坏和鉴定芯片型号的检测装置。设计采用W78E516B单片机作为核心控制器件，以双W78E516B单片机主从机串口通信，键盘输入操作指令，通过编程实现对待测芯片逻辑功能的测试，将测试反馈结果与系统存储的正确逻辑功能相比较，确定待测芯片的型号及逻辑功能的正确性，利用WLA36液晶屏显示，并通过ISD140语音芯片对检测结果进行播报。-IC Tester is a common 74LS series chips can l
verilog-ieee.pdf.tar
- IEEE 2001 verilog 标准 ,详细讲述了 业内 公认的 VERILOG 标准 ,-The Verilog¤ Hardware Descr iption Language (Verilog HDL) became an IEEE standard in 1995 as IEEE Std 1364-1995. It was designed to be simple, intuitive, and effective at multiple levels of abstractio
ULN2003A_
- 在实际应用中一般驱动路数不止一路，用上图的分立电路体积大，很多场合用现成的集成电路作为多路驱动。常用的小型步进电机驱动电路可以用ULN2003或ULN2803。本书配套实验板上用的是ULN2003。ULN2003是高压大电流达林顿晶体管阵列系列产品，具有电流增益高、工作电压高、温度范围宽、带负载能力强等特点，适应于各类要求高速大功率驱动的系统。ULN2003A由7组达林顿晶体管阵列和相应的电阻网络以及钳位二极管网络构成，具有同时驱动7组负载的能力，为单片双极型大功率高速集成电路。ULN2003
IEEE-1149.1
- JTAG(Joint Test Action Group，联合测试行动小组)是1985年制定的检测PCB和IC芯片的一个标准，1990年被修改后成为IEEE的一个标准，即IEEE1149.1-1990。IEEE 1149.1标准就是由JTAG这个组织最初提出的，最终由IEEE批准并且标准化的。所以，这个IEEE 1149.1这个标准一般也俗称JTAG调试标准。
Principles-of-Verifiable-RTL-Design
- 本书主要以HDL（verilog/vhdl）为例，详细讲述了在IC DESIGN FLOW中 Verification 以及Test的设计思想、方法和技巧，涵概了测试的各个方面， 是目前进行IC设计的同仁们最为推荐的一本宝典-Book HDL (verilog/vhdl), a detailed account of the IC DESIGN FLOW, Verification and Test of design ideas, methods and techniques, and
SSD2828QN4_1.0
- DSI Video 模式桥接IC。将RGB 信号转接成MIPI信号输出。适用做LCM测试板-DSI Video mode bridge IC. RGB signal adapter into the the MIPI signal output. Applicable do LCM test board
Principles-of-Verifiable-RTL-Design
- 本书主要以HDL（verilog/vhdl）为例，详细讲述了在IC DESIGN FLOW中 Verification 以及Test的设计思想、方法和技巧，涵概了测试的各个方面， 是目前进行IC设计的同仁们最为推荐的一本宝典-(Kluwer) Principles of Verifiable RTL Design (2nd Ed.)
The-principle-of-phase-locked-loop
- 主要介绍了锁相环的基本原理，PLL参数测试示例展示，重点分析了CD4046——通用的CMOS锁相环集成电路，MT8870——音调译码器(Tone Decoder)是MITEL 公司所开发生产为一颗常用复频译码IC。-Introduces the basic principles of phase-locked loop, PLL parameter test sample shows, analyzes the CD4046-- generic CMOS PLL IC, MT8870-- ton
ic-card-test
- pcsc ic card read test program
hogeh
- A method based on adap t ive filtering is p ropo sed to detect dim smallmoving target s in st rong undulant clut ter background. Thismethod ut ilizes the difference between target and clut ter w ith regard to stat ist ic charac2 terist ics, the c
TP烧录推广（待完善）
- 实现触摸IC烧录，而且支持多种触摸IC的测试，测试短路，开路，容值是否超出范围等(Realize the touch IC burning, and support a variety of touch IC test, test short circuit, open, whether the capacity exceeds the scope and so on)