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  1. NRS4000_cpu

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  2. 现代先进微处理器有非常高的集成度和复杂度,又有寄存器堆、Cache等嵌入式部件,而且芯片管脚数相对较少,必须要有一定的自测试设计和其它的可测试性设计来简化测试代码,提高故障覆盖率。本文简要讨论NRS4000微处理器芯片的以边界扫描测试为主体,以自测试为补充的可测试性设计框架。着重介绍芯片的边界扫描设计和芯片中译码控制器PLA和微程序ROM以及采用内嵌RAM结构的指令Cache和寄存器堆的内建自测试设计。仿真结果表明,这些可测试性设计大大缩短了测试代码的长度。-modern microproces
  3. 所属分类:行业发展研究

    • 发布日期:2008-10-13
    • 文件大小:41303
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