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本文分析的环境，利用内建自测试（ BIST ）和自动测试设备（ ATE ）和提出了封闭形式表达的故障覆盖率的函数数量的BIST的和ATE测试向量。-Analysis and Measurement of Fault Coverage
in a Combined ATE and BIST Environment
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fault coverage
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