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51+ch375读写U盘超精简原程序(啊雨)
- 这个程序用180行C代码就能够读取FAT16文件系统U盘的根目录,可以看到根目录下的文件 名,并可显示 首文件内容,不过,该程序很不严谨,也没有任何错误处理,对U盘兼容性较差,只是用于简单试 验,作为参考. 这个程序可以支持WINDOWS按FAT16格式化的U盘,因为程序精简,所以只兼容超过50%以上的U 盘品牌,如果换 成CH375A芯片则兼容性可提高到85%,当然,如果使用WCH公司的子程序库或者正式版本的C源 程序兼容性更好。 下 欢测试以下U盘通过:郎
lcd-key-led
- 这是我学习过程中编写的测试代码，用STD2.51开发环境，C语言编写，以MICETEK EV44B0－II开发板为硬件测试平台，用到串口，液晶，键盘，LED。 液晶包括图片显示、划线、ASCII码显示、4000多常用的汉字库，可以显示任意常用的汉字。 键盘采用中断触发！-This is my learning process to prepare the test code used STD2.51 development environment, C language, MICETEK
8051+CH375
- 这个程序用180行C代码就能够读取FAT16文件系统U盘的根目录,可以看到根目录下的文件 名,并可显示首文件内容,不过,该程序很不严谨,也没有任何错误处理,对U盘兼容性较差,只是用于简单试验,作为参考.这个程序可以支持WINDOWS按FAT16格式化的U盘,因为程序精简,所以只兼容超过50％以上的U盘品牌,如果换成CH375A芯片则兼容性可提高到85％,当然,如果使用WCH公司的子程序库或者正式版本的C源程序兼容性更好-this procedure with 180 OK C code ca
XXPlatformV1.1
- 此为某测试平台的上位机软件部分，内部使用了虚拟仪器和IVI，同时也 使用自研的调理硬件模块。主要包括系统自检、校准部分。 其中自检涉及到100多路通道，硬件用C8051F020、欧姆龙机电器、光耦 DA部分完成MUX和信号源。 可供多路扫描AD和低频信号源参考。上位机用VC60开发。 完整上位机源代码。-this as a test platform for PC software, which uses the virtual machines and IVI. also
test
- MicrosoftTest for Basic Computer if you can answer more than 99％ you will pass it .
2440test.rar
- 本程序有友善之臂提供，为2440开发板的示例程序，请使用ADS编译。 简单使用说明： 使用H-Jtag或者更高级的仿真器调试，也可以不使用仿真器，借助supervivi的Download & Run功能测试， 下载的时候把DNW的下载地址设置为 0x30000000 即可。 本程序支持如下LCD: - NEC3.5"真彩LCD，分辨率240x320 - 7寸真彩LCD, 分辨率800x480 - VGA扩展模块,分辨率1024x768@70Hz 若要在LCD上正常显示
External-interruption-test
- msp430f1611外部中断测试程序,仅供参考；外部中断比较敏感，手的信号也会触发外部中断-msp430f1611 external interrupt test procedures, for reference only more sensitive external interrupt, hand signals will trigger the external interrupt
CANRcv_snd
- CAN通讯程序，测试通过。完成收发数据校验，标准帧扩展帧。在工业中应用一年以上，性能稳定。处理函数全，直接调用即可。使用方便，可以直接使用。-CAN communication procedures, test. Complete the send and receive data validation, standard frame expansion frame. In industry for more than a year, stable performance. Handler al
24L01
- 2.4G无线模块半双工程序，绿色版本测试通过，超过15M距离-2.4G wireless module half the program, the green version of the test, more than 15M distance
RLC
- 本文所设计的系统是基于AT89C52单片机控制的简易RLC测试仪。为了充分利用单片机的运算和控制功能，方便的实现测量。把参数R、L、C转换成频率信号f，然后用单片机计数后再运算求出R、L、C的值，并送显示。 转换的原理分别是RC振荡电路和电容三点式振荡电路。为了比较准确的测试而频率的计数则是利用等精度数字频率计完成。然后再将结果送单片机运算，并在LED显示器上显示所测得的数值。通过一系列的系统调试，本测试仪到达了测试标准。经过测试， -In this paper, the system d
gyro
- 利用invensense公司的最新MPU-6050来测试陀螺仪数据和加速度数据，并在电脑串口显示出来。本程序的独到之处是增加了一些在串口上显示单片机执行指令的代码并显示MPU-6050的应答信号，以此更清楚地弄明白MPU-6050的通讯过程-Using invensense latest MPU-6050 to test the gyro data and acceleration data, and the serial port on the computer display. The un
ExactDelay
- 用C语言写出来程序非常的简练，它是一种模块化的语言，一种比汇编更高级的语言，但是就是这样一种语言也还是有它不足之处：它的延时很不好控制，我们常常很难知道一段延时程序它的精确延时到底是多少，这和汇编延时程序没发比。但有时后写程序又不得不要用到比较精确的延时，虽然说可以用混合编程的方式解决，但这种方式不是每个人都能掌握，且写起来也麻烦。所以，通过测试我给大家提供一个延时子程序模块，并以此给一个出我们经常用到的延时的数据表格-Using C language written in a very sim
25045
- 单片机多25045进行读写操作的程序，希望对大家有所帮助，也是测试通过了的，请放心使用-Read and write more than 25,045 single-chip operating procedures, we hope to be helpful, but also passed the test, please rest assured that the use of
Timer_2430_test
- 包含4个关于CC2430/cc1110定时器的测试的程序。程序基于IAR软件编写的。估计对开发无线传感器网络的相关人士比较重要。 -4 contains CC2430/cc1110 timer on the test procedure. Procedures prepared based on the IAR software. Estimated on the development of wireless sensor networks is more important stakehol
Accumulator-cell-dump-energy-test
- 基于51单片机的蓄电池剩余电量测试的源代码，比较适合于课程设计。-Microcontroller-based battery charge remaining 51 test source code, more suitable for the course design.
chip-test
- 随着超大规模集成电路的发展，其尺寸变的越来越小，电路越来越复杂，所以测试变得越来越重要-chip test is more and more important
double-Infrared-test
- 通过2路红外发射，顺序接收，检测收发功能是否正常,用手遮挡对应的发射管，用共阳数码管的a、d端模拟左右2端,每60ms分别检测2路发射，通过每组发射10个脉冲，如果接收到的脉冲个数大于6，表明有遮挡存在-Order to receive 2-way infrared emission detection transceiver function is normal, hand block the corresponding launch tube, pipe a common anode dig
test-w5300four_chan_samp_stm32
- stm32控制W5300的程序，改进过W5300发送库文件，使得发送效率更高、更可靠！-W5300 stm32 control procedures, improving over W5300 send the library file so send more efficient and reliable!
c8051f120-temperature-test
- c8051f120单片机温度测试程序，较为完善-c8051f120 microcontroller temperature test program, more comprehensive
TEst--Time
- 测试单片机 某一程序运行的时间，比 调试界面查看 寄存器更准确，适合调试Bug处理-Test run a certain program MCU time than debugging interface view registers more accurate, suitable for debugging Bug