文件名称:chip-test
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随着超大规模集成电路的发展,其尺寸变的越来越小,电路越来越复杂,所以测试变得越来越重要-chip test is more and more important
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(清华大学)芯片测试/BIST.doc
(清华大学)芯片测试/BIST.ppt
(清华大学)芯片测试/BoundaryScan.doc
(清华大学)芯片测试/BoundaryScan.ppt
(清华大学)芯片测试/chapter7.doc
(清华大学)芯片测试/CombinationalTG.doc
(清华大学)芯片测试/CombinationalTG.ppt
(清华大学)芯片测试/dft.doc
(清华大学)芯片测试/dft.ppt
(清华大学)芯片测试/FaultSim.doc
(清华大学)芯片测试/FaultSim.ppt
(清华大学)芯片测试/Fundamentals.doc
(清华大学)芯片测试/Fundamentals.ppt
(清华大学)芯片测试/IDDQ.doc
(清华大学)芯片测试/IDDQ.ppt
(清华大学)芯片测试/MemoryTest.ppt
(清华大学)芯片测试/SequentialTG.ppt
(清华大学)芯片测试/tm.doc
(清华大学)芯片测试/tm.ppt
(清华大学)芯片测试/使用说明请参看右侧注释====〉〉.txt
(清华大学)芯片测试
(清华大学)芯片测试/BIST.ppt
(清华大学)芯片测试/BoundaryScan.doc
(清华大学)芯片测试/BoundaryScan.ppt
(清华大学)芯片测试/chapter7.doc
(清华大学)芯片测试/CombinationalTG.doc
(清华大学)芯片测试/CombinationalTG.ppt
(清华大学)芯片测试/dft.doc
(清华大学)芯片测试/dft.ppt
(清华大学)芯片测试/FaultSim.doc
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(清华大学)芯片测试/Fundamentals.doc
(清华大学)芯片测试/Fundamentals.ppt
(清华大学)芯片测试/IDDQ.doc
(清华大学)芯片测试/IDDQ.ppt
(清华大学)芯片测试/MemoryTest.ppt
(清华大学)芯片测试/SequentialTG.ppt
(清华大学)芯片测试/tm.doc
(清华大学)芯片测试/tm.ppt
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(清华大学)芯片测试
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