本文介绍一种基于NI LabVIEW和北京君合泰科技有限公司U18数据采集卡的晶体管特性测试仪的设计方法，内容包含循环扫描数据采集、回扫消隐、多曲线显示、传输系数计算、被测硬件电路设计等，并给出详细的前面板图和程序框图以及三极管、MOS管、光电耦合器等部分器件的特性曲线测试例子-This paper introduces a design method of transistor characteristic tester based on NI LabVIEW and Beijing Jun

虚拟一个PXI-4472，编制一个完整的LabVIEW软件，完成功能如下： 1、8个通道模拟信号连续采集、显示和记录（存盘）； 2、采样率、耦合方式、记录时间（最长60min）、记录文件名和路径等可以在面板设置； 3、记录文件可以读取显示，可选择显示的通道，每屏显示1000个数据，利用滚动条可以定位文件读取起始位置，并自动向后滚动，通过暂停键可以暂停； 4、对显示窗口的波形数据，可以显示波形的有效值、峰峰值、频率等参数； 5、具有光标功能，可以读

ni9234四通道声音采集模块的FPGA程序，可以设置采样率和耦合方式。-program for NI9234

对于光纤信号,经耦合器之后,在labview中实现对信号的还原。。(For fiber optic signals, the signal is restored in the LabVIEW after the coupler is applied..)