文件名称:AFE5808TEST
-
所属分类:
- 标签属性:
- 上传时间:2014-10-09
-
文件大小:1.38mb
-
已下载:0次
-
提 供 者:
-
相关连接:无下载说明:别用迅雷下载,失败请重下,重下不扣分!
介绍说明--下载内容来自于网络,使用问题请自行百度
AFE5808与EP3C40F484的PFGA数据采集传输程序-AFE5808 and EP3C40F484 data acquisition and transmission program of PFGA
(系统自动生成,下载前可以参看下载内容)
下载文件列表
AFE5808TEST/AFE5808_PLL.bsf
AFE5808TEST/AFE5808_PLL.cmp
AFE5808TEST/AFE5808_PLL.ppf
AFE5808TEST/AFE5808_PLL.qip
AFE5808TEST/AFE5808_PLL.vhd
AFE5808TEST/AFE5808_TEST.bsf
AFE5808TEST/AFE5808_TEST.inc
AFE5808TEST/AFE5808_TEST.v
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.asm.rpt
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.bdf
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.cdf
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.done
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.dpf
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.fit.rpt
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.fit.smsg
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.fit.summary
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.flow.rpt
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.map.rpt
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.map.summary
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.pin
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.qpf
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.qsf
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.qsf.bak
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.sof
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.sta.rpt
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.sta.summary
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.tan.rpt
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.tan.summary
AFE5808TEST/atom_netlists/AFE5908_CHIP_TEST.qsf
AFE5808TEST/db/AFE5808_PLL_altpll.v
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.(0).cnf.cdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.(0).cnf.hdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.(1).cnf.cdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.(1).cnf.hdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.(2).cnf.cdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.(2).cnf.hdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.(3).cnf.cdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.(3).cnf.hdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.(4).cnf.cdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.(4).cnf.hdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.ace_cmp.bpm
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.ace_cmp.cdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.ace_cmp.hdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.amm.cdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.asm.qmsg
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.asm.rdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.asm_labs.ddb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.cbx.xml
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.cmp.bpm
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.cmp.cbp
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.cmp.cdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.cmp.hdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.cmp.kpt
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.cmp.logdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.cmp.rdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.cmp.tdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.cmp_merge.kpt
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.cuda_io_sim_cache.31um_ff_1200mv_0c_fast.hsd
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.cuda_io_sim_cache.31um_ss_1200mv_85c_slow.hsd
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.db_info
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.eco.cdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.fit.qmsg
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.hier_info
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.hif
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.idb.cdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.lpc.html
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.lpc.rdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.lpc.txt
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.map.bpm
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.map.cbp
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.map.cdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.map.hdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.map.kpt
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.map.logdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.map.qmsg
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.map_bb.cdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.map_bb.hdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.map_bb.logdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.pre_map.cdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.pre_map.hdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.rtlv.hdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.rtlv_sg.cdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.rtlv_sg_swap.cdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.sgdiff.cdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.sgdiff.hdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.sld_design_entry.sci
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.sld_design_entry_dsc.sci
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.smart_action.txt
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.syn_hier_info
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.tan.qmsg
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.tiscmp.fastest_slow_1200mv_85c.ddb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.tiscmp.slow_1200mv_85c.ddb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.tis_db_list.ddb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.tmw_info
AFE5808TEST/db/logic_util_heursitic.dat
AFE5808TEST/db/prev_cmp_AFE5908_CHIP_TEST.qmsg
AFE5808TEST/greybox_tmp/cbx_args.txt
AFE5808TEST/incremental_db/compiled_partitions/AFE5908_CHIP_TEST.db_info
AFE5808TEST/incremental_db/compiled_partitions/AFE5908_CHIP_TEST.root_partition.cmp.cdb
AFE5808TEST/incremental_db/compiled_partitions/AFE5908_CHIP_TEST.root_partition.cmp.dfp
AFE5808TEST/incremental_db/compiled_partitions/AFE5908_CHIP_TEST.root_partition.cmp.hdb
AFE5808TEST/incremental_db/compiled_partitions/AFE5908_CHIP_TEST.root_partition.cmp.kpt
AFE5808TEST/incremental_db/compiled_partitions/AFE5908_CHIP_TEST.root_partition.cmp.logdb
AFE5808TEST/incremental_db/compiled_partitions/AFE5908_CHIP_TEST.root_partition.cmp.rcfdb
AFE5808TEST/incremental_db/compiled_partitions/AFE5908_CHIP_TEST.root_partition.cmp.re.rcfdb
AFE5808TEST/incremental_db/compiled_partitions/AFE5908_CHIP_TEST.root_partition.hbdb.cdb
AFE5808TEST/incremental_db/compiled_partitions/AFE5908_CHIP_TEST.root_partition.map.cdb
AFE5808TEST/incremental_db/compiled_partitions/AFE5908_CHIP_TEST.root_partition.map.dpi
AFE5808TEST/incremental_db/compiled_partitions/AFE5908_CHIP_TEST.root
AFE5808TEST/AFE5808_PLL.cmp
AFE5808TEST/AFE5808_PLL.ppf
AFE5808TEST/AFE5808_PLL.qip
AFE5808TEST/AFE5808_PLL.vhd
AFE5808TEST/AFE5808_TEST.bsf
AFE5808TEST/AFE5808_TEST.inc
AFE5808TEST/AFE5808_TEST.v
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.asm.rpt
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.bdf
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.cdf
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.done
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.dpf
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.fit.rpt
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.fit.smsg
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.fit.summary
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.flow.rpt
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.map.rpt
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.map.summary
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.pin
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.qpf
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.qsf
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.qsf.bak
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.sof
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.sta.rpt
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.sta.summary
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.tan.rpt
AFE5808TEST/AFE5908_CHIP_TEST.tan.summary
AFE5808TEST/atom_netlists/AFE5908_CHIP_TEST.qsf
AFE5808TEST/db/AFE5808_PLL_altpll.v
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.(0).cnf.cdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.(0).cnf.hdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.(1).cnf.cdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.(1).cnf.hdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.(2).cnf.cdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.(2).cnf.hdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.(3).cnf.cdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.(3).cnf.hdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.(4).cnf.cdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.(4).cnf.hdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.ace_cmp.bpm
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.ace_cmp.cdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.ace_cmp.hdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.amm.cdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.asm.qmsg
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.asm.rdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.asm_labs.ddb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.cbx.xml
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.cmp.bpm
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.cmp.cbp
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.cmp.cdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.cmp.hdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.cmp.kpt
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.cmp.logdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.cmp.rdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.cmp.tdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.cmp_merge.kpt
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.cuda_io_sim_cache.31um_ff_1200mv_0c_fast.hsd
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.cuda_io_sim_cache.31um_ss_1200mv_85c_slow.hsd
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.db_info
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.eco.cdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.fit.qmsg
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.hier_info
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.hif
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.idb.cdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.lpc.html
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.lpc.rdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.lpc.txt
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.map.bpm
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.map.cbp
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.map.cdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.map.hdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.map.kpt
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.map.logdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.map.qmsg
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.map_bb.cdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.map_bb.hdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.map_bb.logdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.pre_map.cdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.pre_map.hdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.rtlv.hdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.rtlv_sg.cdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.rtlv_sg_swap.cdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.sgdiff.cdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.sgdiff.hdb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.sld_design_entry.sci
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.sld_design_entry_dsc.sci
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.smart_action.txt
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.syn_hier_info
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.tan.qmsg
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.tiscmp.fastest_slow_1200mv_85c.ddb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.tiscmp.slow_1200mv_85c.ddb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.tis_db_list.ddb
AFE5808TEST/db/AFE5908_CHIP_TEST.tmw_info
AFE5808TEST/db/logic_util_heursitic.dat
AFE5808TEST/db/prev_cmp_AFE5908_CHIP_TEST.qmsg
AFE5808TEST/greybox_tmp/cbx_args.txt
AFE5808TEST/incremental_db/compiled_partitions/AFE5908_CHIP_TEST.db_info
AFE5808TEST/incremental_db/compiled_partitions/AFE5908_CHIP_TEST.root_partition.cmp.cdb
AFE5808TEST/incremental_db/compiled_partitions/AFE5908_CHIP_TEST.root_partition.cmp.dfp
AFE5808TEST/incremental_db/compiled_partitions/AFE5908_CHIP_TEST.root_partition.cmp.hdb
AFE5808TEST/incremental_db/compiled_partitions/AFE5908_CHIP_TEST.root_partition.cmp.kpt
AFE5808TEST/incremental_db/compiled_partitions/AFE5908_CHIP_TEST.root_partition.cmp.logdb
AFE5808TEST/incremental_db/compiled_partitions/AFE5908_CHIP_TEST.root_partition.cmp.rcfdb
AFE5808TEST/incremental_db/compiled_partitions/AFE5908_CHIP_TEST.root_partition.cmp.re.rcfdb
AFE5808TEST/incremental_db/compiled_partitions/AFE5908_CHIP_TEST.root_partition.hbdb.cdb
AFE5808TEST/incremental_db/compiled_partitions/AFE5908_CHIP_TEST.root_partition.map.cdb
AFE5808TEST/incremental_db/compiled_partitions/AFE5908_CHIP_TEST.root_partition.map.dpi
AFE5808TEST/incremental_db/compiled_partitions/AFE5908_CHIP_TEST.root
1999-2046 搜珍网 All Rights Reserved.
本站作为网络服务提供者,仅为网络服务对象提供信息存储空间,仅对用户上载内容的表现方式做保护处理,对上载内容本身不做任何修改或编辑。
