OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理

1 前言

本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎上，結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。

2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture

從IEEE的JTAG測試標準開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標準最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批准並且標準化，所以，IEEE 1149.1這個標準一般也俗稱JTAG測試標準。

接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構。