资源列表
LX-2011-28PIN-WDT
- 该例子简单实现了PIC18F2550单片机中看门狗的使用功能。-The example simple implementation of the PIC18F2550 microcontroller watchdog the use function.
can_mfc
- 本工程是在WINCE下演示调用CAN驱动的完整例子程序。-This project is a complete example program called demo WINCE under CAN driver.
ADC
- 本例程演示了STM32F103开发板上的ADC功能。运行时液晶屏上显示： STM3210x DEMO ADC Val：xxxx 其中xxxx为ADC转化模拟电压后的值,可以通过调节电位器的值来改变测量值-This routine demonstrates STM32F103 development board ADC function. Run time is displayed on the LCD screen: STM3210x DEMO the ADC Val: xxxx x
wellarVC
- 超强时钟上位机开发程序，整个工程文件都在可以方便修改-Super the clock PC development program, the entire project file can easily modify
EXT44I
- 本例程演示了STM开发板上的外部中断功能。运行时液晶屏上显示： STM32F10x DEMO EXTI TEST 按K1产生一次外部中断，L3将闪烁一次。 -This routine demonstrates STM development board external interrupt function. Run time is displayed on the LCD screen: STM32F10x DEMO EXTI TEST K1 generate an exter
FLA414SH
- 本例程演示了如何编程FLASH。 程序运行后，如果编程正确，液晶屏会显示： STM32F10x DEMO FLASH TEST: OK 如果编程错误，液晶屏会显示： STM32F10x DEMO FLASH TEST: KO -This routine demonstrates how to program FLASH. After the program is run, if the programming is correct, the LCD will disp
GPI474O
- 本例程主要测试LED和KEY，当程序运行时，LCD屏上会显示： STM32F10x DEMO GPIO TEST 按键K1-K4控制灯闪动的次数： 按k1,L1,L3各闪1次 按k2,L1,L3各闪2次 按k3,L1,L3各闪3次 按k4,L1,L3各闪4次 -The main routine test LED KEY, when the program runs on the LCD screen will display: The STM32F10x DEMO
LED-LIGHT
- FPGA verilog LED点灯 使用的是Xinlix SPARTAN-3E 的处理器-FPGA verilog LED light
IWDG
- 本例程测试了独立看门狗的使用。 程序运行时，液晶屏上会显示： STM32F10x DEMO IWDG TEST 通过使用SysTick中断按照250ms周期性更新IWDG计数器,每次更新的时候L1闪烁一次。使用外部中断7来模拟一次软件失败，按K1将产生一次外部中断7， 因为外部中断7的优先级比EWI优先级高，所以将会导致SysTick中断没有响应，IWDG计数器没有被重载，将出现重置事件，发生重置之后如果按K5来重置程序，L3将被点亮. -This routine tes
lpc1700-GPS
- LPC1766芯片，串口0读取GPS数据的程序-Program LPC1766 chip serial 0 read GPS data
BSL-program-software
- 利尔达的BSL编程软件，有BSL加密功能-Lleida BSL programming software, BSL encryption capabilities
Test
- msp430f4250实验板的测试程序，有笔段式LCD驱动测试、SD16电压采集等多个测试程序-msp430f4250 the experimental board test program, pen segment LCD driver test, SD16 voltage acquisition multiple testing procedures