文件名称:PickUpImage
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所属分类：
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- 上传时间：2012-11-16
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本程式使用在擷取晶片所量測到應變的干涉條紋
可重複擷取欲觀測位置的條紋-The program uses the chip in the measured capture the interference fringes can be repeated strain To capture the location of stripes observed
可重複擷取欲觀測位置的條紋-The program uses the chip in the measured capture the interference fringes can be repeated strain To capture the location of stripes observed
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PickUpImage.m
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